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58 在本條中，明確提出了選用SRB比照試塊上的人工矩形槽作為基準，比照焊縫根部的未焊透深度。其理論根據(jù)在第20.3條的解說中已作敘說：人工矩形槽的形狀與未焊透比照靠近。因為SRB比照試塊的工作面曲率和表面粗糙度與相應(yīng)的被檢的油氣管道的查看面曲率和表面粗糙度一樣，所以，以試塊上的人工矩形槽為基準，可以大致判定焊縫內(nèi)的未焊透深度。 根據(jù)標準編制小組做的人工矩形槽的回波高度試驗證明，SRB試塊上的人工矩形槽的回波高起碼能抵達標準中表26所規(guī)矩的定量線的高度，并處于間隔—波幅曲線圖上的Ⅱ區(qū)或Ⅲ區(qū)。因而，對焊縫中的根部未焊透短少選用人工槽比照法定量與選用間隔—波幅曲線定量基本上是一起的。因為被檢管道的壁厚不一樣，容許的未焊透深度不一樣，SRB試塊上的人工矩形槽的槽深也不一樣，人工槽的回波在間隔—波幅曲線圖上地址的區(qū)域也就會有所改動。 22 查看 22.1查看前查看人員應(yīng)了解被檢管道的資料、厚度、曲率、組對狀況、坡口方法、焊接方法、焊縫余高、焊縫寬度及溝槽等狀況。 A型脈沖超聲波查看儀的特征是從儀器的熒光屏上只能直接得到兩個信息：短少的回波波高（波形）和聲波的傳達時刻（或由此得到的超聲波越過的聲程），不能直接閃現(xiàn)出短少的形象和在被查看的部件中的方位。所以在查看中，查看人員除聯(lián)絡(luò)探頭在工件中的方位，查詢儀器示波屏上的波形以外，還需借助于收集到的被檢工件的有關(guān)狀況，根據(jù)所把握的超聲波查看理論知識和已有的實習經(jīng)歷進行分析，才調(diào)對被檢工件作出較為準確的差異。條文中規(guī)矩：在查看前查看人員應(yīng)了解被檢管線的資料、厚度、曲率、組對狀況、坡口型式、焊接方法、焊縫種類、焊縫余高、焊縫寬度及溝槽等狀況，這是查看人員為了作出準確的差異，而有必要了解乃至把握的首要信息，也是超聲查看工作中必不可少的一部分。不然，假定查看人員在工作前不了解被檢管道的壁厚和曲率，既無法選擇探頭和試塊，也無法調(diào)整儀器。 22.2選用單面雙側(cè)直射法及反射波法查看。 條文中的“單面雙側(cè)”指的是管道外壁被檢焊縫的兩頭查看面。在對油氣管道焊縫作超聲波查看時，應(yīng)當分別在焊縫的兩頭各做一次勘探。其理由是： （1）焊縫中的短少具有一定的方向性，尤其是面狀短少，如坡口未熔合、裂紋等，在焊縫兩頭的不一樣方向的聲束掃查焊縫，有利于防止短少漏檢。 （2）對管道對接環(huán)焊縫作查看時，管道內(nèi)壁的表面狀況一般不能直接查詢，只需經(jīng)過在焊縫兩頭進行掃查，才調(diào)對短少信號或內(nèi)壁表面的幾許反射波作出差異。 例如，當有錯邊存在時，焊縫內(nèi)表面或許具有超卓的反射條件，從回波信號可以判定反射點在焊縫的基地線上，且處于焊縫底部，但從焊縫另一側(cè)勘探時，因為沒有反射條件，就沒有反射信號。而對于根部未焊透，因為從焊縫兩頭勘探都具有超卓的反射條件，因而均有劇烈的反射信號。從兩頭對短少定位距焊縫基地線的間隔均為根部空位寬度的一半，且處于焊縫底部。如圖022所示。  圖022 錯邊與未焊透及其波形

74 （2）工件磁化過程中,短少平面方向與磁力線筆直時發(fā)作的漏磁場最強,施加磁粉后構(gòu)成的磁痕明顯,跟著其夾角的增大,漏磁場強度隨之削弱,因此僅一個方向磁化會構(gòu)成漏檢。一同,磁極端面與受檢表面接觸不良時,將發(fā)作很大漏磁場,保證不了受檢表面和近表面滿足的磁場強度,然后下降查看靈敏度。所以本標準規(guī)矩穿插磁軛四個磁極端面與受檢表面之間最大空位不跨過1.5㎜，最大行走速度不跨過4m/min。 28.3.3 磁懸液的施加應(yīng)符合下列規(guī)矩： a) 磁懸液濃度應(yīng)符合27.3.3的規(guī)矩。 b) 受檢表面先被磁懸液超卓地濕潤后，才可施加磁懸液。 c) 磁懸液的施加可選用噴、澆方法，不行選用刷涂法。不管選用哪種方法，均不應(yīng)使查看面上磁懸液的流速過快。 d) 磁懸液必須在通電時間內(nèi)施加結(jié)束，通電時間宜為1～3s。為保證磁化作用應(yīng)起碼重復(fù)磁化兩次，停施磁懸液起碼1s后才可連續(xù)磁化。已構(gòu)成的磁痕不得被活動著的磁懸液所損壞。 磁懸液對受檢表面的濕潤程度、磁懸液的施加方法與機遇均對磁粉查看質(zhì)量影響很大。因此，本標準保留了原標準此有些的規(guī)矩。對熒光磁懸液的施加次第應(yīng)自上而下進行，以防止查詢布景受污染。 28.3.4 磁痕的查詢 磁痕的查詢應(yīng)在磁痕構(gòu)成后立刻進行。 a) 非熒光磁粉查看時，磁痕的查詢應(yīng)在可見光下進行，工件受檢表面處可見光照度應(yīng)不小于1000lx；當現(xiàn)場選用便攜式設(shè)備查看，因為條件所限無法滿足時，可見光照度可以恰當下降，但不得低于500lx。 熒光磁粉查看時，黑光燈的輻照度和波長應(yīng)滿足27.1.3的懇求。磁痕的查詢應(yīng)在較暗的環(huán)境里進行，其可見光照度應(yīng)不大于20lx。 b) 當辯認纖細短少磁痕時，運用5～10倍放大鏡進行查詢。 磁痕閃現(xiàn)的查詢與分析辨別受查詢環(huán)境和條件的影響很大，因此本條對磁痕閃現(xiàn)的查詢條件作出了規(guī)矩。 原標準規(guī)矩非熒光磁粉查看時，工件受檢表面處可見光照度應(yīng)不小于500lx，而本標準提高到1000lx。一同規(guī)矩：當現(xiàn)場條件所限無法滿足時，可見光照度可以恰當下降，但不得低于500lx。 29 復(fù)驗 29.1 當出現(xiàn)下列情況之一時，應(yīng)進行復(fù)驗： a) 查看結(jié)束時，用標準試片驗證查看靈敏度不符合懇求； b) 發(fā)現(xiàn)查看過程中操作方法有誤； c) 對查看作用有爭議； d) 有其它需要。 29.2 復(fù)驗應(yīng)按第28章的懇求進行。 本章保留了原標準的定見。

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