無(wú)接觸體電阻率型號(hào)測(cè)試儀
概述：[中介]產(chǎn)品介紹 HS-TRM-100型無(wú)接觸式電阻率型號(hào)測(cè)試儀是基于渦流（Eddy Current）測(cè)試技術(shù)，能夠?qū)枇�、硅棒、硅錠及硅片進(jìn)行無(wú)接觸、無(wú)損傷的體電阻率測(cè)試。
產(chǎn)品介紹
HS-TRM-100型無(wú)接觸式電阻率型號(hào)測(cè)試儀是基于渦流（Eddy Current）測(cè)試技術(shù)，能夠?qū)枇稀⒐璋�、硅錠及硅片進(jìn)行無(wú)接觸、無(wú)損傷的體電阻率測(cè)試。
無(wú)接觸式電阻率型號(hào)測(cè)試儀-產(chǎn)品特點(diǎn)
■ 測(cè)試范圍廣，低阻可測(cè)至0.001ohm.cm，甚至0.0007ohm.cm,高阻可測(cè)至100ohm.cm
■ 產(chǎn)品體積小，便于移動(dòng)和攜帶
■ 采用渦流法測(cè)試硅錠、棒、回爐料體電阻率
■ 無(wú)接觸、無(wú)損傷快速測(cè)試
■ 測(cè)試前無(wú)需表面處理
■ 特別對(duì)于多晶，能夠有效避免晶界對(duì)測(cè)試的影響
■ 測(cè)試范圍：0.001-100 ohm.cm (分段測(cè)試）
■ 可選加無(wú)接觸PN型號(hào)測(cè)試功能
■ 可進(jìn)行溫度和厚度的修正
無(wú)接觸式電阻率型號(hào)測(cè)試儀-技術(shù)指標(biāo)
■ 硅棒硅塊可測(cè)量電阻率范圍：0.001-100Ohm.cm
■ 最小測(cè)試厚度：200μm
■ 測(cè)量時(shí)間：2秒/次
■ 最小測(cè)試面積：30x30 mm2
■ 推薦使用溫度：20℃
■ 濕度：≤80%
■ 氣壓：86-106kPa
■ 使用電壓：230±10V
■ 頻率，50±3Hz
■ 功率消耗：≤5W
尺寸（LxWxH）：280x200x60mm[本信息來(lái)自于今日推薦網(wǎng)]
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