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BKTEM-Dx全自動熱電性能分析系統(tǒng) 

BKTEM-Dx全自動熱電性能分析系統(tǒng)

關(guān)鍵詞：熱電材料，Seebeck系數(shù)，電導率， 電阻率，V-1裝置

產(chǎn)品介紹：

     BKTEM-Dx熱電性能分析系統(tǒng)是一款全新的自動化熱電賽貝克系數(shù)測試儀，該儀器實現(xiàn)了一體化設(shè)計，無需手動，電腦軟件上可以直接抽真空，設(shè)置溫度，只要將樣品裝上之后，實現(xiàn)一鍵式的測量，電阻率及各個表格能夠直觀出現(xiàn)，其測試性能遠超越國內(nèi)外熱電材料測試儀，不僅可以用于塊體材料同時也可以用于薄材料的測試，是目前國內(nèi)高等院校和材料研究所的重要設(shè)備。

對于熱電材料的研究，熱電性能測試是不可或缺的試驗數(shù)據(jù)。BKTEM-Dx(x=1,2,3)系列可以精確地測定半導體材料、金屬材料及其他熱電材料(Bi2Te3, PbTe, Skutterudites等)及薄膜材料的Seebeck系數(shù)及電導率。主要原理和特點如下: 

該裝置由高精度，高靈敏度溫度可控的電阻爐和控制溫度用的微型加熱源構(gòu)成。通過PID程序控溫，采用四點法的方式精確測定半導體材料及熱電材料的Seebeck系數(shù)及電導率、電阻率。試樣與引線的接觸是否正常V-1裝置可以自動檢出，自動出來測試數(shù)據(jù)和測試報告。

一、適用范圍：

1、精確地測定半導體材料、金屬材料及其他熱電(Bi2Te3,PbTe,Skutterudites康銅、鎳、鎢等金屬，Te、Bi2Te3、ZrNiSn、ZnAgSb、NiMoSb、SnTe、FeNbSb、CuGaTe2、GeTe、Ag1-xCuS、Cu2ZnSnSe4等)的Seebeck系數(shù)及電導率、電阻率。

3、塊體和薄膜材料測均可以測試。

4、試樣與引線的接觸是否正常V-1裝置可以自動檢出。

5、擁有自身專利分析軟件，獨立分析，過程自動控制，界面友好。

6、國內(nèi)高等院校材料系研究或是熱電材料生產(chǎn)單位。

7、汽車和燃油、能源利用效率、替代能源領(lǐng)域、熱電制冷.
8、很多其他工業(yè)和研究領(lǐng)域-每年都會誕生新的應(yīng)用領(lǐng)域。

二、技術(shù)特點：

      一體化設(shè)計，所有參數(shù)直接在電腦上操作，無須人工干預

·解決高溫下溫控精度不準的問題，靜態(tài)法測量更加直觀的了解產(chǎn)品熱電材料的真正表征物理屬性。

· 溫度檢測可采用J、K型熱電偶，降低測試成本。

·試樣采用獨特的焊偶機構(gòu)，保證接觸電阻最小以及測量結(jié)果的高重現(xiàn)性。

· 每次可測試1-3個樣品.

· 采用高級數(shù)據(jù)采集技術(shù)，避免電路板數(shù)據(jù)采集技術(shù)帶來的干擾誤差，可控溫場下同步測量賽貝克系數(shù)和電阻率。 

· 采用原裝進口的采集儀，測試報告自動生成。

三：主要技術(shù)：

測量溫度：室溫-600℃,800℃,1200℃ 可選

同時測試樣品數(shù)量：1個，2個，3個 可選

控溫精度：0.5K（溫度波動:≤±0.1℃）

升溫速率：0.01 –100K/min，極大得提高測試時間

測量原理：塞貝克系數(shù)：靜態(tài)直流電；電阻系數(shù)：四端法

測量范圍：塞貝克系數(shù)：0.5μV/K_25V/K；電阻系數(shù)：0.2Ohm-2.5KOhm

分辨率：塞貝克系數(shù)：10nV/K;電阻系數(shù)： 10nOhm

測量精度：塞貝克系數(shù)：＜±6％；電阻系數(shù)：＜±5％

樣品尺寸：塊體方條形：2-3×2-3 mm×10-23mm長，薄膜材料：≥50 nm

熱電偶導距: ≥6 mm

電   流: 0 to 160 Ma

氣   氛：0 to 160 mA

加熱電極相數(shù)/電壓：單相，220V，

夾具接觸熱阻：≤0.05 m²K/W

圖1 單一樣品測試系統(tǒng)原理示意圖