其測試原理是
所有分類下結果無接觸少子壽命掃描儀
[中介]HS-MWR-2S-3無接觸少子壽命掃描儀是一款功能異常強大的無接觸少子壽命掃描儀，能夠對單晶硅棒、多晶硅塊及硅片提供快速、無接觸、無損傷、高分辨率的多功能掃描測試，其通過微波光電衰退特性原理來測量非平
CS-200智能電池內阻測試儀
電池內阻測試儀是用于測量電池內部阻抗及電壓，它是對被測對象施加1KHz交流信號，通過測量其交流壓降而獲得其內阻（它不同于多用表測量電阻的原理，它所測量的值上毫歐級，而多用表測量的是歐姆級，且多
[深圳 儀器儀表]
