自動(dòng)光譜橢偏儀

  光譜橢偏儀(PH-SE型)針對(duì)太陽(yáng)能電池應(yīng)用，可測(cè)量多晶硅/單晶硅絨面表面單層（二層或多層）減反射膜、和玻璃/有機(jī)基底上的薄膜太陽(yáng)能電池。多層膜和非均勻薄膜的分析也非常出色。 針對(duì)太陽(yáng)能電池應(yīng)用的光譜橢偏儀基于最佳的橢偏光路設(shè)計(jì)，高靈敏度探測(cè)單元和光譜橢偏儀分析軟件，可測(cè)量各種太陽(yáng)能電池的薄膜厚度和光學(xué)常數(shù)，光學(xué)帶寬等。 光譜橢偏儀 - 產(chǎn)品特點(diǎn) ■ 連續(xù)波長(zhǎng)的光源為用戶提供了更大的應(yīng)用空間 ■ 更簡(jiǎn)便快捷的樣品準(zhǔn)直方法 ■ 軟件具備豐富的材料數(shù)據(jù)庫(kù)......

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