測量
所有分類下結(jié)果無接觸厚度TTV電阻率綜合測試系統(tǒng)
[中介]HS-T50無接觸厚度TTV電阻率綜合測試系統(tǒng)是一款廣泛應(yīng)用于太陽能電池片制造過程中對表面厚度TTV電阻率無損測量的專業(yè)儀器。該儀器適用于Si，GaAs，InP，Ge等幾乎所有的材料，所有的設(shè)計(jì)都符合ASTM(美國材料
單點(diǎn)少子壽命測試儀
[中介]HS-CLT少子壽命測試儀是一款功能異常強(qiáng)大的少子壽命測試儀，不僅適用于硅片少子壽命的測量，更適用于硅塊、硅棒、硅芯、檢磷棒、檢硼棒、籽晶等多種不規(guī)則形狀硅少子壽命的測量。少子測試量程從1μs到2000
激光橢偏儀針對晶硅太陽能電池絨面上的減反膜測量
[中介]多角度激光橢偏儀(PH-LE型)專門針對晶硅太陽能電池絨面上的減反膜測量，能夠測量薄膜厚度及其光學(xué)常數(shù)，使用632.8nm波長氦氖激光器，具有極高的精確度和準(zhǔn)確度。
硅材料綜合測試儀
[中介]硅料綜合測試儀HS-PSRT
本儀器是運(yùn)用四探針測量原理的多功能綜合測試裝置，它可以測量片狀、塊狀半導(dǎo)體材料的徑向和軸向電阻率，適用于半導(dǎo)體及太陽能行業(yè)的篩選。
硅料綜合測試儀 - 產(chǎn)品特點(diǎn)
■ 同時(shí)檢
無接觸少子壽命掃描儀
[中介]HS-MWR-2S-3無接觸少子壽命掃描儀是一款功能異常強(qiáng)大的無接觸少子壽命掃描儀，能夠?qū)尉Ч璋簟⒍嗑Ч鑹K及硅片提供快速、無接觸、無損傷、高分辨率的多功能掃描測試，其通過微波光電衰退特性原理來測量非平
光譜橢偏儀全自動(dòng)
[中介]全自動(dòng)光譜橢偏儀(PH-ASE型)把使用者從煩瑣的手動(dòng)調(diào)節(jié)樣品高度和傾斜度工作中解放出來，樣品對準(zhǔn)是為了保證橢偏儀測量的可重復(fù)性和精確性。已獲得專利的自動(dòng)樣品對準(zhǔn)裝置能夠顯著減少操作失誤；能夠工作于
自動(dòng)光譜橢偏儀
[中介]光譜橢偏儀(PH-SE型)針對太陽能電池應(yīng)用，可測量多晶硅/單晶硅絨面表面單層（二層或多層）減反射膜、和玻璃/有機(jī)基底上的薄膜太陽能電池。多層膜和非均勻薄膜的分析也非常出色。 針對太陽能電池應(yīng)用的光譜
原生多晶及硅芯型號測試儀
[中介]HS-PSTT原生多晶及硅芯型號測試儀是一款高端半導(dǎo)體材料型號測試儀器，具有大量程測試范圍的特點(diǎn)，尤其適用于西門子法原生硅料生產(chǎn)企業(yè)的高阻硅料（含硅芯、檢磷棒、檢硼棒等）以及各種低阻硅料型號測量，型
半自動(dòng)硅片厚度TTV測試儀
[中介]特征
■適用于硅片等各種材料的厚度TTV精確測量
■測量范圍：0～2mm
■分辨率：0.1μm
■微電腦控制、液晶顯示
■菜單式界面、PVC面板操作
■接觸式測量
■測頭自動(dòng)升降
■手動(dòng)、自動(dòng)雙重測量模式
四探針電阻率方阻測試儀
[中介]本儀器用來測量硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器.本儀器按照半導(dǎo)體材料電阻率的國際及國家標(biāo)準(zhǔn)測試方法有關(guān)規(guī)定設(shè)計(jì)。 它主要由電器測量部份（主機(jī)）及
